| CMOS电路瞬态电流测试技术动态 | |
| 张鹏 [1]; 焦慧芳 [2]; 贾新章 [3] | |
| 会议名称 | 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会 |
| 会议日期 | 2006年10月22日 |
| 会议地点 | 福建武夷山 |
| 关键词 | CMOS电路 电流测试 瞬态电流 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2114414 |
| 专题 | 华南理工大学 |
| 作者单位 | [1]华南理工大学材料学院,广东,广州,510640 [2]西安电子科技大学微电子学院,陕西,西安,710071 信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610 [3]信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张鹏 [1],焦慧芳 [2],贾新章 [3]. CMOS电路瞬态电流测试技术动态[C]. 见:中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会. 福建武夷山. 2006年10月22日. |
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