| An empirical model of leakage current in poly-silicon TFTs (CPCI-S收录) | |
| Wu, W. J.; Yao, R. H.; Hu, Y. F.; Li, S. H. | |
| 会议名称 | AD'07: PROCEEDINGS OF ASIA DISPLAY 2007, VOLS 1 AND 2 |
| 关键词 | poly-Si TFT modeling empirical model leakage current |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2102031 |
| 专题 | 华南理工大学 |
| 作者单位 | S China Univ Technol, Inst Microelect, Guangzhou, Guangdong, Peoples R China |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wu, W. J.,Yao, R. H.,Hu, Y. F.,等. An empirical model of leakage current in poly-silicon TFTs (CPCI-S收录)[C]. 见:AD'07: PROCEEDINGS OF ASIA DISPLAY 2007, VOLS 1 AND 2. |
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