| SiGe HBT工艺结构及失效分析 | |
| 林晓玲; 孔学东 恩云飞 章晓文 姚若河 | |
| 会议名称 | 2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会 |
| 会议日期 | 2007-10 |
| 会议地点 | 四川都江堰 |
| 关键词 | SIGE 异质结晶体管 加速寿命试验 可靠性 REID 热载流子效应 |
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| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2101748 |
| 专题 | 华南理工大学 |
| 作者单位 | 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室信息产业部电子第五研究所 华南理工大学物理科学与技术学院广州 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 林晓玲,孔学东 恩云飞 章晓文 姚若河. SiGe HBT工艺结构及失效分析[C]. 见:2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会. 四川都江堰. 2007-10. |
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