| 一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案 | |
| 孟坚; 鲁世斌; 代广珍; 徐太龙; 陈军宁 | |
| 刊名 | 计算机工程
 |
| 2014 | |
| 卷号 | 第40卷页码:306-309 |
| 关键词 | 可测试性设计 低功耗 系统芯片 内建自测试 电源关断 多电源多电压 扫描链 |
| ISSN号 | 1000-3428 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2086641 |
| 专题 | 安徽大学 |
| 作者单位 | 1.合肥师范学院电子信息工程学院 2.安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孟坚,鲁世斌,代广珍,等. 一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案[J]. 计算机工程,2014,第40卷:306-309. |
| APA | 孟坚,鲁世斌,代广珍,徐太龙,&陈军宁.(2014).一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案.计算机工程,第40卷,306-309. |
| MLA | 孟坚,et al."一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案".计算机工程 第40卷(2014):306-309. |
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