CORC  > 华南理工大学
基于Canny边缘检测的芯片定位算法研究
高红霞 [1]; 麦倩 [1]; 胡跃明 [1]; 李煌 [2]
会议名称2009中国高端SMT学术会议
会议日期2009年09月01日
会议地点成都
关键词表面贴装元器件 芯片定位 CANNY边缘检测
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内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2079850
专题华南理工大学
作者单位[1]华南理工大学精密电子制造装备教育部工程研究中心 自动化学院 [2]中山大学信息科学与技术学院
推荐引用方式
GB/T 7714
高红霞 [1],麦倩 [1],胡跃明 [1],等. 基于Canny边缘检测的芯片定位算法研究[C]. 见:2009中国高端SMT学术会议. 成都. 2009年09月01日.
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