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	Investigation of The NBTI Induced Mobility Degradation for Precise Circuit Aging Simulation (CPCI-S收录)
	Ma, Chenyue[1]; Li, Xiangbin[1]; Sun, Fu[1]; Zhang, Lining[2]; Lin, Xinnan[1]
关键词	NBTI mobility degradation hot carrier injection self-heating effect coupling
URL标识	查看原文
内容类型	会议
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2038021
专题	华南理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Ma, Chenyue[1],Li, Xiangbin[1],Sun, Fu[1],等.Investigation of The NBTI Induced Mobility Degradation for Precise Circuit Aging Simulation (CPCI-S收录).

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