| 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法; 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法; 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法; 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法 | |
| 胡科研 ; 崔平 ; 李勇 | |
| 2008 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | cn101221155 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院合肥研究院 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 学科主题 | 纳米材料与技术 |
| 公开日期 | 2009-11-10 ; 2009-11-10 |
| 申请日期 | 2007 |
| 专利申请号 | cn200710019562 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/1764]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院固体物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡科研,崔平,李勇. 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法, 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法, 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法, 光催化分离膜性能测试装置及其测试方法. cn101221155. 2008-01-01. |
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