| 基于Testpoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统 | |
| 程红娟; 孙钟林; 赵颖; 吴春亚 | |
| 刊名 | 计算机测量与控制
 |
| 2005 | |
| 卷号 | 第13卷页码:1312-1315 |
| 关键词 | Testpoint开发平台 事件驱动 自动测试系统 |
| ISSN号 | 1671-4598 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/1917268 |
| 专题 | 南开大学 |
| 作者单位 | 1.中科院光电研究院 2.南开大学光电子所 北京 3.南开大学光电子所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程红娟,孙钟林,赵颖,等. 基于Testpoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统[J]. 计算机测量与控制,2005,第13卷:1312-1315. |
| APA | 程红娟,孙钟林,赵颖,&吴春亚.(2005).基于Testpoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统.计算机测量与控制,第13卷,1312-1315. |
| MLA | 程红娟,et al."基于Testpoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统".计算机测量与控制 第13卷(2005):1312-1315. |
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