QQ客服 官方微博 反馈留言

	Reliability design of CMOS image sensor for space applications
	Jie N(解宁); Chen SJ(陈世军); Chen YP(陈永平)
	2012-12-31
会议日期	2013-08-21
会议地点	0
学科主题	红外探测材料与器件
内容类型	会议论文
源URL	[http://202.127.1.142/handle/181331/7640]
专题	上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式 GB/T 7714	Jie N,Chen SJ,Chen YP. Reliability design of CMOS image sensor for space applications[C]. 见:. 0. 2013-08-21.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。