一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法 | |
1虞慧娴2孙士文 3杨建荣4周昌鹤 5徐超 6 周梅华 7王云 | |
2014-10-16 | |
著作权人 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
专利号 | 201410546842.7 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明 |
公开日期 | 2017-02-08 |
状态 | 授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/11638] |
专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
作者单位 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 1虞慧娴2孙士文 3杨建荣4周昌鹤 5徐超 6 周梅华 7王云. 一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法. 201410546842.7. 2014-10-16. |
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