一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法 | |
1陆卫2夏长生3李志锋4张波 5李宁6陈效双7陈明法 | |
2009 | |
著作权人 | 上海技术物理研究所 |
专利号 | 200510111361.4 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明 |
公开日期 | 2011-07-06 |
申请日期 | 2005 |
语种 | 中文 |
状态 | 公开 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/937] ![]() |
专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 1陆卫2夏长生3李志锋4张波 5李宁6陈效双7陈明法. 一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法. 200510111361.4. 2009-01-01. |
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