高温处理对ZnO薄膜及其忆阻性能的影响

	高温处理对ZnO薄膜及其忆阻性能的影响
	高俊华; 胡令祥; 施思齐; 曹鸿涛; 梁凌燕; 张洪亮; 诸葛飞
刊名	材料科学与工程学报
	2018
卷号	36 期号:04 页码:564-567
关键词	忆阻器高温处理 Zno 无电形成
产权排序	上海大学材料科学与工程学院;中国科学院宁波材料技术与工程研究所;
英文摘要	本文研究了高温处理对ZnO薄膜及其忆阻效应的影响,发现利用经800℃高温处理后的ZnO薄膜制备的Cu/ZnO/Pt器件依然保持忆阻性能,并观察到无电形成过程的忆阻效应。研究表明,无电形成过程的原因在于高温处理后的ZnO薄膜出现了纳米级通道,使得在沉积顶电极Cu的过程中,形成天然的导电通道,使器件呈现低阻态。
公开日期	2018-12-04
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/16525]
专题	2018专题
推荐引用方式 GB/T 7714	高俊华,胡令祥,施思齐,等. 高温处理对ZnO薄膜及其忆阻性能的影响[J]. 材料科学与工程学报,2018,36(04):564-567.
APA	高俊华.,胡令祥.,施思齐.,曹鸿涛.,梁凌燕.,...&诸葛飞.(2018).高温处理对ZnO薄膜及其忆阻性能的影响.材料科学与工程学报,36(04),564-567.
MLA	高俊华,et al."高温处理对ZnO薄膜及其忆阻性能的影响".材料科学与工程学报 36.04(2018):564-567.