无卷边单分子层WS_2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究

	无卷边单分子层WS_2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究
	田天; 陈友虎; 李云朋; 秦禄昌; 王元斐
刊名	电子显微学报
	2017
期号	02 页码:96-102
英文摘要	本文利用高分辨电子显微术(HRTEM)确定了无卷边的单分子层WS_2纳米片的原子结构像。通过对样品不同区域HRTEM像进行傅里叶变换(FFT)分析,得到了各个区域的WS_2纳米片的晶体取向,确定了WS_2纳米片分子层数分布。根据电子显微像强度与样品层数的线性关系以及WS_2纳米片的单分子层数分布模型,确定不同区域WS_2纳米片的分子层数。为了进一步定量分析结果的正确性,通过模拟电子显微像在不同碳膜厚度及不同成像条件下WS_2纳米片的HRTEM像,也确定了在像衬度上与实验像很好的匹配。
公开日期	2017-12-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/13409]
专题	2017专题
推荐引用方式 GB/T 7714	田天,陈友虎,李云朋,等. 无卷边单分子层WS_2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究[J]. 电子显微学报,2017(02):96-102.
APA	田天,陈友虎,李云朋,秦禄昌,&王元斐.(2017).无卷边单分子层WS_2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究.电子显微学报(02),96-102.
MLA	田天,et al."无卷边单分子层WS_2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究".电子显微学报 .02(2017):96-102.