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	基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法; 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法; 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法; 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法
	李润伟; 陈欣欣; 刘宜伟; 陈斌; 王保敏
	2016-04-20
著作权人	中国科学院宁波材料技术与工程研究所
专利号	CN105510642A
国家	中国
文献子类	发明
英文摘要	本发明提供了一种基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置。该装置系统采用具有磁性、导电、导热性的探针，能够提供样品的表面形貌探测、磁信号探测以及热信号探测模式，通过控制探针的位移或振动轨迹，能够原位、同步、实时地探测样品的磁、热性能。因此，该装置克服了现有扫描探针显微镜仅具有磁或热信号的单一探测功能的局限性；同时，能够原位、同步、实时地探测材料的温度与热导分布、磁畴结构及其动态演化过程，从而直观地研究材料的磁-热之间的耦合规律与机制，有助于降低微-纳器件的功耗，提高其稳定性和集成度，大大推进微-纳尺度热科学的发展。
公开日期	2016-04-20
申请日期	2014-09-24
状态	公开
内容类型	专利
源URL	[http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/15645]
专题	宁波材料技术与工程研究所_专利成果
推荐引用方式 GB/T 7714	李润伟,陈欣欣,刘宜伟,等. 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法, 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法, 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法, 基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法. CN105510642A. 2016-04-20.

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