一种均匀光源角均匀性测试装置及方法

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	一种均匀光源角均匀性测试装置及方法
	昌明; 赵建科; 薛勋; 周艳; 李晶; 曹昆; 胡丹丹; 宋琦
	2018-11-09
著作权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号	CN201810521754.X
国家	中国
文献子类	发明专利
产权排序	1
其他题名	一种均匀光源角均匀性测试装置及方法
英文摘要	本发明属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置及方法，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本发明的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X‑Y二维扫描架、旋转平台、光亮度探测器和控制计算机；X‑Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上；控制计算机控制竖板沿横板轴向、旋转平台沿竖板轴向运动的位移量及旋转平台的转动角度。本发明同时还提供了一种均匀光源角均匀性测试装置的测试方法。
公开日期	2018-11-09
申请日期	2018-05-28
语种	中文
状态	申请中
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30945]
专题	其它单位_其它部门
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	昌明,赵建科,薛勋,等. 一种均匀光源角均匀性测试装置及方法. CN201810521754.X. 2018-11-09.