| 面阵光纤传像束与CCD耦合调制传递函数特性研究 | |
| 何煦; 袁理; 张晓辉 | |
| 2016-09-25 | |
| 关键词 | 调制传递函数 Ccd 光纤包层 面阵 光电成像 测试带 光电系统 离散采样 光信号 质量评价模型 |
| 英文摘要 | <正>伴随高分辨率成像光纤束制备工艺的不断进步,使传统高性能光电成像仪器具备柔性并大幅缩小体积和重量成为可能,其在天文观测、光谱分析、医用光学等领域极具应用潜力。但光纤传像束和CCD像元的耦合离散采样效应导致传统成像质量评价模型中的空不变假设难以使用,数学模型存在局限性,这为耦合离散采样成像光电系统的设计、优化、装调、测试带来困难。论文从灰度余弦分布光信号在光纤传像束、 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57826]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何煦,袁理,张晓辉. 面阵光纤传像束与CCD耦合调制传递函数特性研究[J],2016. |
| APA | 何煦,袁理,&张晓辉.(2016).面阵光纤传像束与CCD耦合调制传递函数特性研究.. |
| MLA | 何煦,et al."面阵光纤传像束与CCD耦合调制传递函数特性研究".(2016). |
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