| 题名 | 一种亚纳米级栅距变化量的变栅距光栅分度控制方法的研究 |
| 作者 | 时轮 |
| 答辩日期 | 2002 |
| 文献子类 | 博士 |
| 授予单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 授予地点 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 导师 | 郝德阜 |
| 关键词 | 变栅距光栅 亚纳米 分度 |
| 其他题名 | A Graduation Control Method in Ruling Engine for the Fabrication of Varied Line-space Gratings with Sub-nanometer Space Increment |
| 学位专业 | 机械制造及其自动化 |
| 英文摘要 | 变栅距光栅具有像差校正、自聚焦等优点，在天文物理学、同步辐射、光纤通信等领域有着重要的应用，因此，变栅距光栅的刻划技术一直是国际光栅制作领域的重大课题之一。变栅距光栅要求的栅距变化量为纳米、亚纳米数量级，这成为变栅距光栅制作的。个主要的技术难点。针对于此，美国、日本和俄罗斯等极少数国家为光栅刻划机设计了十分复杂的分度控制系统，虽然刻划出了具有实用性的变栅距光栅，但其复杂、昂贵的设备不适合我国光栅加工的具体情况。由于变栅距光栅要求的最小栅距变化量为纳米至亚纳米级，仅靠提高刻划机的分度精度己很难实现，鉴于此，根据现有的光栅制作的具体情况，本文首次提出了一种相位扫描方法用于光栅刻划机的变栅距分度控制，即通过对光栅刻划机分度系统的干涉条纹采用微位移扫描方式进行相位控制，达到变栅距光栅分度的目的。实验结果表明，本文提出的相位扫描方法原理正确，具有创新性，达到了变栅距光栅所要求的亚纳米级的栅距变化精度。由于该方法只需在现有的光电式光栅刻划机上附加相位扫描装置，因而系统的整体可靠性更高。更实用。主要研究内容：1。对平面变栅距光栅的聚焦特性和像差校正原理进行了较全面的综述。2、完成了光电式刻划机控制系统的设计、制作，安装及调试，成功地对长春光机所的2＃刻划机进行了光电控制改造，并对4＃光电式光栅刻划机进行了重新改造。3、提出了相位扫描的方法，设计并制作了相应的相位扫描装置。4、采用相位扫描方法进行了变栅距光栅的刻划实验，并对刻划误差进行了初步的分析。5、对变栅距光栅的实验样品进行了栅距的实际检测。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-21 |
| 页码 | 76 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://159.226.165.120//handle/181722/1627]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 时轮. 一种亚纳米级栅距变化量的变栅距光栅分度控制方法的研究[D]. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所. 2002. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论