| 题名 | CCD光学调制传递函数及检测方法研究 |
| 作者 | 公发全 |
| 答辩日期 | 2002 |
| 文献子类 | 硕士 |
| 授予单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 授予地点 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 导师 | 韩昌元 |
| 关键词 | F检测 亚像元 |
| 学位专业 | 光学 |
| 英文摘要 | 本文通过对CCD器件空间采样过程的描述，详细分析了CCD积分采样过程调制传递函数的构成要素，提出了分析离散采样成像系统调制传递函数的有效方法，并用该方法分析比较了亚像元成像系统与单片CCD系统的MTF,给出了CCD器件光学传递函数(UTF)和光学调制传递函数(MTF )的定义，提出了检测CCD调制传递函数有效方法，采用几种不同测量方法测定了TDICCD的调制传递函数，并进行了比较分析。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-21 |
| 页码 | 49 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://159.226.165.120//handle/181722/1555]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 公发全. CCD光学调制传递函数及检测方法研究[D]. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所. 2002. |
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