一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法

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	一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法
	徐能 1,2; 陈琛1 ; 盛立志1 ; 赵宝升1
	2015
会议日期	2015-10-17
会议地点	中国陕西西安
关键词	硅漂移探测器负指数脉冲梯形成形基线恢复
英文摘要	硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)对1~10keV软X射线具有较高的探测效率和较高的能量分辨,将其应用于X射线脉冲星导航中微弱X射线探测,可以减小探测器面积同时提高信噪比。本文提出了一种易于实现的基于SDD的能谱测量方法。分析了将SDD探测器输出的原始阶梯信号整形成负指数脉冲信号的优势,并讨论了采样速率、光子计数率和负指数脉冲时间常数之间的关系。负指数脉冲信号经过AD采样后进行数字信号处理,其中重点介绍了梯形成形和基线恢复。讨论了数字梯形成形相对于模拟成形的优势,用Z变换的方法推导了如何将负指数脉冲变换成梯形,给出了用FPGA实时实现该算法的方法,并分析了梯形...
产权排序	1
会议录	2015 年（第七届）西部光子学学术会议论文集
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/27598]
专题	会议录_2015 年（第七届）西部光子学学术会议论文集
作者单位	1.中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室 2.中国科学院大学研究生院
推荐引用方式 GB/T 7714	徐能,陈琛,盛立志,等. 一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法[C]. 见:. 中国陕西西安. 2015-10-17.