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	陈池来 王泓伟 张晓天 李山 余健文 王焕钦 倪林 孔德义 王英先 唐敏
	2015
专利国别	中国
专利号	公开号 CN 104934287 A
专利类型	发明
权利人	中国科学院
申请日期	2015
专利申请号	201510224886.2
内容类型	专利
源URL	[http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21399]
专题	合肥物质科学研究院_中科院合肥智能机械研究所
作者单位	中国科学院合肥物质科学研究院智能所
推荐引用方式 GB/T 7714	陈池来 王泓伟 张晓天 李山 余健文 王焕钦 倪林 孔德义 王英先 唐敏. 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法. 公开号 CN 104934287 A. 2015-01-01.

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