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陈池来 刘友江 张晓天 阮智铭 林新华 朱利凯 王英先 孔德义 殷世平 | |
2015 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 公开号 CN 104934286 A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院 |
申请日期 | 2015 |
专利申请号 | 201510224633.5 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21398] |
专题 | 合肥物质科学研究院_中科院合肥智能机械研究所 |
作者单位 | 中国科学院合肥物质科学研究院智能所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈池来 刘友江 张晓天 阮智铭 林新华 朱利凯 王英先 孔德义 殷世平. 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法. 公开号 CN 104934286 A. 2015-01-01. |
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