相干调制成像技术测量大口径光学元件复振幅透过率 | |
陶华; 潘兴臣; 刘诚; 朱健强 | |
2016 | |
中文摘要 | 高功率激光驱动器中使用了大量的大口径光学元件,光学元件质量的好坏直接影响驱动器的整体性能,因此对于每块大口径光学元件都需要进行精确的测量与安装。传统的光学元件复振幅透过率测量是采用大口径干涉仪进行,但是对于某些特殊的元件,例如面型高度不规则的用于光束匀滑的连续分布相位板(CPP),由于其具有较大的相位变化梯度,实际中使用干涉仪测量难以进行。相干调制成像(CMI)技术是为了克服 |
会议录 | 第十六届全国光学测试学术交流会摘要集 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/27389] |
专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陶华,潘兴臣,刘诚,等. 相干调制成像技术测量大口径光学元件复振幅透过率[C]. 见:. |
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