NaI（T1）-HPeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法

	NaI（T1）-HPeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法
	仇九子; 王书志
刊名	核电子学与探测技术
	1996-05-20
期号	3 页码:3
关键词	γ－γ符合谱仪死时间校正因子
ISSN号	0258-0934
中文摘要	本文讨论了ＮａＩ（ＴＩ）－ＨＰＧｃγ－γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量，给出了γ－γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中，对测量的γ活性进行了死时间的校正。
出版地	Beijing
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130750]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	仇九子,王书志. NaI（T1）-HPeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法[J]. 核电子学与探测技术,1996(3):3.
APA	仇九子,&王书志.(1996).NaI（T1）-HPeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法.核电子学与探测技术(3),3.
MLA	仇九子,et al."NaI（T1）-HPeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法".核电子学与探测技术 .3(1996):3.