硅半导体二重符合反冲质子望远镜 | |
王学智; 杨成 | |
刊名 | 原子能科学技术 |
1989-05-01 | |
期号 | 4页码:1-7 |
关键词 | 二重符合 反冲质子望远镜比对 |
ISSN号 | 1000-6931 |
中文摘要 | 文章叙述半导体二重符合反冲质子望远镜的调试和在14MeV中子源上与伴随粒子法的比对测量。 |
出版地 | Beijing |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130411] |
专题 | 核科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王学智,杨成. 硅半导体二重符合反冲质子望远镜[J]. 原子能科学技术,1989(4):1-7. |
APA | 王学智,&杨成.(1989).硅半导体二重符合反冲质子望远镜.原子能科学技术(4),1-7. |
MLA | 王学智,et al."硅半导体二重符合反冲质子望远镜".原子能科学技术 .4(1989):1-7. |
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