紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究 | |
王荣 ; 张铁强 ; 高春歌 ; 崔海宁 | |
刊名 | 光电子·激光 |
1998 | |
卷号 | 9期号:2 |
关键词 | 化学水浴法 紫外可见分光光度法 透过率 |
ISSN号 | 1005-0086 |
中文摘要 | 本文阐述了利用紫外可见分光光度法检测CdS薄膜光学性质的基本原理,设计了测试系统,并利用所设计的系统对化学水浴法沉积CdS薄膜的光谱透过率进行测试。通过对不同沉积时间的CdS薄膜的光学性能分析,得出其在一定温度条件下沉积时间对薄膜的光学性质有较大的影响。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-11-04 ; 2011-06-09 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/23329] |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王荣,张铁强,高春歌,等. 紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究[J]. 光电子·激光,1998,9(2). |
APA | 王荣,张铁强,高春歌,&崔海宁.(1998).紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究.光电子·激光,9(2). |
MLA | 王荣,et al."紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究".光电子·激光 9.2(1998). |
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