ITO/Rubrene 表面及界面的AFM 和XPS 研究

	ITO/Rubrene 表面及界面的AFM 和XPS 研究
	王金顺; 李海蓉; 彭应全; 向东旭
刊名	发光学报/Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence
	2014-02-15
卷号	35 期号:2 页码:209-212
关键词	XPS Rubrene 化学位移界面态 C-C bonds Indium tin oxide Interface electronics Interfacial state Oxygen contamination Rubrenes Sputtering time Surface and interface analysis
ISSN号	10007032
其他题名	Surface and interface analysis of ITO/Rubrene using AFM and XPS
通讯作者	Li, H.-R. (hrli@lzu.edu.cn)
中文摘要	采用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究了氧化铟锡(ITO)/红荧烯(Rubrene)的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示,ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰,位于282.50,284.70,289.30 eV,对应于C—Si、CO和C—C键。用氩离子束溅射表面,芳香碳对应的峰值逐渐增大,其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除,O1s峰先快速减弱然后逐渐增强。界面附近的O原子与C原子结合构成OC、C—O—C和醛基。In3d和Sn3d峰则缓慢增强,在界面附近峰值变得稳定。C1s、In3d、Sn3d谱峰都向低束缚能发生化学位...
学科主题	Materials Science; High Energy Physics; Nuclear Physics; Plasma Physics; Inorganic Compounds; Physical Chemistry; Chemistry; Optical Devices and Systems; Electromagnetic Waves
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://202.201.7.4/handle/262010/107584]
专题	物理科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	王金顺,李海蓉,彭应全,等. ITO/Rubrene 表面及界面的AFM 和XPS 研究[J]. 发光学报/Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence,2014,35(2):209-212.
APA	王金顺,李海蓉,彭应全,&向东旭.(2014).ITO/Rubrene 表面及界面的AFM 和XPS 研究.发光学报/Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence,35(2),209-212.
MLA	王金顺,et al."ITO/Rubrene 表面及界面的AFM 和XPS 研究".发光学报/Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence 35.2(2014):209-212.