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Strong electronic excitation effect of swift heavy ions on C-60 films
Jin YF(金运范); Tian HX(田惠贤); Liu J(刘杰); Xie EQ(谢二庆); Wang ZG(王志光); Zhang CH(张崇宏); Sun YM(孙友梅); Zhu ZY(朱智勇); Yao CF(姚存峰)
刊名高能物理与核物理
2004-07-21
期号7页码:781-785
关键词强电子激发效应 快重离子 C60薄膜 退火效应 strong electronic excitation effect swift heavy ion C-60 film annealing effect
ISSN号0254-3052
其他题名快重离子辐照C_(60)薄膜的强电子激发效应研究
中文摘要利用能量为 2 0GeV的13 6Xe和 2 7GeV的2 3 8U离子对C60 薄膜进行了辐照 ,并用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱和拉曼散射技术分析了辐照过的C60 样品 ,在傅立叶变换红外光谱上 ,首次观察到一个位于 6 70cm-1处的 ,表征未知结构的新峰 ,研究了其强度随电子能损和辐照剂量的变化规律 .分析结果表明 ,电子能量转移主导了C60 薄膜的损伤过程 ;而损伤的部分恢复是由强电子激发的退火效应引起的 ;另外 ,离子的速度在损伤的建立过程中也起了一定的作用
语种中文
WOS记录号WOS:000222817300020
内容类型期刊论文
源URL[http://202.201.7.4/handle/262010/103864]  
专题物理科学与技术学院_期刊论文
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GB/T 7714
Jin YF,Tian HX,Liu J,et al. Strong electronic excitation effect of swift heavy ions on C-60 films[J]. 高能物理与核物理,2004(7):781-785.
APA 金运范.,田惠贤.,刘杰.,谢二庆.,王志光.,...&姚存峰.(2004).Strong electronic excitation effect of swift heavy ions on C-60 films.高能物理与核物理(7),781-785.
MLA 金运范,et al."Strong electronic excitation effect of swift heavy ions on C-60 films".高能物理与核物理 .7(2004):781-785.
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