离子通道噪声对神经元新陈代谢能量的影响 | |
王慧巧; 俞连春; 陈勇 | |
刊名 | 物理学报
![]() |
2009-07-15 | |
期号 | 7页码:5070-5074 |
关键词 | 噪声 离子通道 神经元 Hodgkin-Huxley模型 |
其他题名 | 离子通道噪声对神经元新陈代谢能量的影响 |
中文摘要 | 利用随机Hodgkin-Huxley模型对发生在不同膜面积、不同温度下的神经元新陈代谢能量损耗进行了数值模拟研究.与实际神经元进行比较,表明神经元细胞膜存在一个最佳的膜面积和最佳的温度.在最佳的膜面积和温度下,神经元的新陈代谢能量损耗最小.最佳的膜面积与实际神经元膜面积一致,并且这个最佳的温度与室温一致. |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://202.201.7.4:8080/handle/262010/102785] ![]() |
专题 | 物理科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王慧巧,俞连春,陈勇. 离子通道噪声对神经元新陈代谢能量的影响[J]. 物理学报,2009(7):5070-5074. |
APA | 王慧巧,俞连春,&陈勇.(2009).离子通道噪声对神经元新陈代谢能量的影响.物理学报(7),5070-5074. |
MLA | 王慧巧,et al."离子通道噪声对神经元新陈代谢能量的影响".物理学报 .7(2009):5070-5074. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论