快重离子辐照C60薄膜的强电子激发效应研究 | |
金运范; 田惠贤; 刘杰; 谢二庆; 王志光; 张崇宏; 孙友梅; 朱智勇; 姚存峰 | |
刊名 | 高能物理与核物理
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2004-07-20 | |
期号 | 7页码:781-785 |
关键词 | 强电子激发效应 快重离子 C60薄膜 退火效应 |
其他题名 | 快重离子辐照C_(60)薄膜的强电子激发效应研究 |
中文摘要 | 利用能量为 2 0GeV的13 6Xe和 2 7GeV的2 3 8U离子对C60 薄膜进行了辐照 ,并用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱和拉曼散射技术分析了辐照过的C60 样品 ,在傅立叶变换红外光谱上 ,首次观察到一个位于 6 70cm-1处的 ,表征未知结构的新峰 ,研究了其强度随电子能损和辐照剂量的变化规律 .分析结果表明 ,电子能量转移主导了C60 薄膜的损伤过程 ;而损伤的部分恢复是由强电子激发的退火效应引起的 ;另外 ,离子的速度在损伤的建立过程中也起了一定的作用 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://202.201.7.4:8080/handle/262010/101122] ![]() |
专题 | 物理科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 金运范,田惠贤,刘杰,等. 快重离子辐照C60薄膜的强电子激发效应研究[J]. 高能物理与核物理,2004(7):781-785. |
APA | 金运范.,田惠贤.,刘杰.,谢二庆.,王志光.,...&姚存峰.(2004).快重离子辐照C60薄膜的强电子激发效应研究.高能物理与核物理(7),781-785. |
MLA | 金运范,et al."快重离子辐照C60薄膜的强电子激发效应研究".高能物理与核物理 .7(2004):781-785. |
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