Au_(Si_SiO_2)_p型Si结构的可见电致发光研究 | |
马书懿; 王印月; 刘雪芹 | |
刊名 | 功能材料与器件学报
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2000-12-30 | |
期号 | 4页码:354-356 |
关键词 | Si/SiO_2薄膜 电致发光 发光中心 |
其他题名 | Au/(Si/SiO_2)/p型Si结构的可见电致发光研究 |
中文摘要 | Si SiO2 薄膜采用射频磁控溅射技术制备 ,当正向偏压大于 5V时即可观测到来自不同Si层厚度的Au (Si SiO2 ) p Si结构在室温下的可见电致发光 ,其发光谱峰位均位于 6 6 0nm处 ,测得的各种偏压下的发光峰位不随正向偏压的升高而移动。实验结果表明光发射主要来自于SiO2 层中的发光中心上的复合发光。 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://202.201.7.4:8080/handle/262010/101090] ![]() |
专题 | 物理科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 马书懿,王印月,刘雪芹. Au_(Si_SiO_2)_p型Si结构的可见电致发光研究[J]. 功能材料与器件学报,2000(4):354-356. |
APA | 马书懿,王印月,&刘雪芹.(2000).Au_(Si_SiO_2)_p型Si结构的可见电致发光研究.功能材料与器件学报(4),354-356. |
MLA | 马书懿,et al."Au_(Si_SiO_2)_p型Si结构的可见电致发光研究".功能材料与器件学报 .4(2000):354-356. |
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