声子晶体点缺陷模式质量传感的位置解耦方法

	声子晶体点缺陷模式质量传感的位置解耦方法
	龙斌; 李鹏; 刘永顺; 李峰; 吴一辉
刊名	压电与声光
	2016-06-15
期号	3 页码:382-385
关键词	质量传感器声子晶体位置解耦点缺陷灵敏度
中文摘要	声子晶体点缺陷微小的振动质量和高品质因数(Q)使之用于质量传感时可以提高灵敏度和分辨率,但其灵敏度受被测物位置影响。制作硅基点缺陷结构,建立了计算缺陷模式的质量灵敏度的弹簧-振子模型。通过实验验证,实验中最高灵敏度为9.1Hz/ng。提出了一种利用多模式的灵敏度分布差异对质量和位置进行解耦的算法,并予以仿真验证。采用3种和8种模式测量质量的相对误差分别为2.6%和0.43%。
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57605]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	龙斌,李鹏,刘永顺,等. 声子晶体点缺陷模式质量传感的位置解耦方法[J]. 压电与声光,2016(3):382-385.
APA	龙斌,李鹏,刘永顺,李峰,&吴一辉.(2016).声子晶体点缺陷模式质量传感的位置解耦方法.压电与声光(3),382-385.
MLA	龙斌,et al."声子晶体点缺陷模式质量传感的位置解耦方法".压电与声光 .3(2016):382-385.