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	微干涉测量技术研究液膜的楔压和液膜厚度的关系(英文); A Study of the Relation of Film Disjoining Pressure and Film Thickness by Microinterferometric Technique
	魏光 ; 韩国彬 ; 吴金添
	1999
关键词	楔压 微干涉测量技术 一般黑膜 Newton黑膜 膜表面张力 Disjoining pressure Microinterferometric Technique Common black film Newton black film Surface tension of film
英文摘要	报道了直接测定楔压等温线的方法，研究了阳离子表面活性剂TTAb在浓度大于CMC时，液膜的平衡厚度与楔压的关系，以及膜表面张力与溶液表面张力之间的差别。结果显示，在低楔压时，膜厚随楔压增加而变薄，在高楔压时，随着楔压的增加，膜厚变化很小。由楔压等温线得出的膜表面张力的结果说明了一般黑膜的表面张力数值与溶液的表面张力并没有明显的差别。; 国家教委科研基金
语种	zh_CN
内容类型	期刊论文
源URL	[http://dspace.xmu.edu.cn/handle/2288/107765]
专题	化学化工－已发表论文
推荐引用方式 GB/T 7714	魏光,韩国彬,吴金添. 微干涉测量技术研究液膜的楔压和液膜厚度的关系(英文), A Study of the Relation of Film Disjoining Pressure and Film Thickness by Microinterferometric Technique[J],1999.
APA	魏光,韩国彬,&吴金添.(1999).微干涉测量技术研究液膜的楔压和液膜厚度的关系(英文)..
MLA	魏光,et al."微干涉测量技术研究液膜的楔压和液膜厚度的关系(英文)".(1999).

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