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邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征
董炎明 ; 吴玉松 ; 王勉
刊名http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002
2002-07-30
关键词壳聚糖 邻苯二甲酰化壳聚糖 溶致液晶 临界浓度(c) X射线电子能谱 取代度
英文摘要从全脱乙酰化壳聚糖出发,在室温下合成了一系列不同取代度的邻苯二甲酰化壳聚糖(PhCS),由于反应条件温和,产物未发生进一步的酰亚胺化.X射线电子能谱(XPS)被用来测定PhCS的取代度.测定结果表明在N上和O上均发生取代,N上反应的取代度随酸酐用量的增加基本保持不变(0.26±0.03),而O上的取代度却不断变大(0.01~1.54),合成产物的总取代度为0.26~1.81.邻苯二甲酰化壳聚糖可溶解于普通的有机溶剂,如DMSO、二氯乙酸和甲酸,并形成溶致液晶.测定了PhCS在这些溶剂中的临界浓度(c),结果表明c基本上不受取代度变化的影响.
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://dspace.xmu.edu.cn/handle/2288/55290]  
专题材料学院-已发表论文
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董炎明,吴玉松,王勉. 邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征[J]. http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002,2002.
APA 董炎明,吴玉松,&王勉.(2002).邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征.http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002.
MLA 董炎明,et al."邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征".http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002 (2002).
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