邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征 | |
董炎明 ; 吴玉松 ; 王勉 | |
刊名 | http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002 |
2002-07-30 | |
关键词 | 壳聚糖 邻苯二甲酰化壳聚糖 溶致液晶 临界浓度(c) X射线电子能谱 取代度 |
英文摘要 | 从全脱乙酰化壳聚糖出发,在室温下合成了一系列不同取代度的邻苯二甲酰化壳聚糖(PhCS),由于反应条件温和,产物未发生进一步的酰亚胺化.X射线电子能谱(XPS)被用来测定PhCS的取代度.测定结果表明在N上和O上均发生取代,N上反应的取代度随酸酐用量的增加基本保持不变(0.26±0.03),而O上的取代度却不断变大(0.01~1.54),合成产物的总取代度为0.26~1.81.邻苯二甲酰化壳聚糖可溶解于普通的有机溶剂,如DMSO、二氯乙酸和甲酸,并形成溶致液晶.测定了PhCS在这些溶剂中的临界浓度(c),结果表明c基本上不受取代度变化的影响. |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://dspace.xmu.edu.cn/handle/2288/55290] |
专题 | 材料学院-已发表论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 董炎明,吴玉松,王勉. 邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征[J]. http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002,2002. |
APA | 董炎明,吴玉松,&王勉.(2002).邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征.http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002. |
MLA | 董炎明,et al."邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征".http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLHX200207013&dbname=CJFQ2002 (2002). |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论