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疏水性有序介孔氧化硅薄膜的制备
彭迟香 ; 吴国友 ; 余煜玺 ; 程璇
刊名http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=HXXB201106010&dbname=CJFQ2011
2011-03-28
关键词有序介孔 氧化硅薄膜 表面修饰
英文摘要采用溶胶-凝胶技术并结合蒸发诱导自组装工艺,以三嵌段共聚物EO20PO70EO20(P123)为模板剂,使用浸渍提拉法制备了有序介孔氧化硅薄膜,并使用不同的表面修饰剂对薄膜进行表面处理,制备了疏水性有序介孔氧化硅薄膜.利用FT-IR、小角XRD、HRTEM分别表征薄膜的化学物种和孔结构,探讨了热处理温度和老化时间对薄膜介孔结构的影响,通过接触角测试研究薄膜的疏水性能,考察了修饰剂种类、修饰浓度和修饰时间对薄膜疏水性的影响,结果表明所制备的薄膜为高度有序的介孔氧化硅薄膜,孔径大小约为8 nm;表面修饰对薄膜的有序性有一定影响,经三甲基氯硅烷(TMCS)和γ-氨丙基三乙氧基硅烷(KH-550)修饰后的薄膜具有很好的疏水性能,接触角分别为112°和96°;修饰后薄膜的水汽稳定性良好,仍能保持有序介孔结构,孔径达7.5 nm,接触角达93°.
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://dspace.xmu.edu.cn/handle/2288/15776]  
专题材料学院-已发表论文
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彭迟香,吴国友,余煜玺,等. 疏水性有序介孔氧化硅薄膜的制备[J]. http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=HXXB201106010&dbname=CJFQ2011,2011.
APA 彭迟香,吴国友,余煜玺,&程璇.(2011).疏水性有序介孔氧化硅薄膜的制备.http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=HXXB201106010&dbname=CJFQ2011.
MLA 彭迟香,et al."疏水性有序介孔氧化硅薄膜的制备".http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=HXXB201106010&dbname=CJFQ2011 (2011).
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