基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数

CORC > 上海交通大学

	基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数
	洪建勋 ; 陈建平 ; 李新碗 ; 王义平
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GDZJ20050400K&dbname=CJFQ2005
	2012-04-24 ; 2012-04-24
关键词	电光系数 MachZehnder(M-Z)光纤干涉仪可见度测量
中文摘要	提出了采用Mach Zehnder(M Z)光纤干涉仪的电光聚合物电光系数测量方法,对其测量原理进行了分析,研究了光纤干涉仪的臂长差、样品的插入损耗对系统可见度的影响,讨论了通过合理设置耦合器的耦合系数提高系统测量性能的方法。系统具有较好的稳定性和较高的灵敏度,既适合于聚合物薄膜也适合于聚合物波导的测量,系统干涉可见度为0.86,可分辨的最小相位变化约为6×10-6 rad。该系统可以同时测量2个独立的电光系数γ13和γ33,使用该系统测得一种有机/无机杂化材料ASD/SiO2 TiO2 极化后的电光系数为γ13=0.72±0.01 pm/V和γ33=2.8±0.01 pm/V。
语种	中文
其他责任者	上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室 ; 上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室上海200030 ; 上海200030
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.calis.edu.cn/hdl/231030/587]
专题	上海交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	洪建勋,陈建平,李新碗,等. 基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GDZJ20050400K&dbname=CJFQ2005,2012, 2012.
APA	洪建勋,陈建平,李新碗,&王义平.(2012).基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GDZJ20050400K&dbname=CJFQ2005.
MLA	洪建勋,et al."基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GDZJ20050400K&dbname=CJFQ2005 (2012).