CdZnTe晶体缺陷的透射电子显微分析

CORC > 西北工业大学

	CdZnTe晶体缺陷的透射电子显微分析
	曾冬梅 ; 王涛 ; 查钢强 ; 张继军 ; 介万奇
	2012-04-24 ; 2012-04-24
会议名称	中国湖北武汉第六届中国功能材料及其应用学术会议
关键词	CdznTe 透射电子显微镜缺陷固液界面
中文摘要	采用透射电子显微镜对 CdznTe 晶体材料的缺陷特性进行了分析．在(111)面的透射电镜明场像中,观察到了棱柱位错环、位错墙、沉淀相、层错及倾斜的孪晶界面．应力是位错形成的主要原因,棱柱位错环的产生是由于沉淀相粒子在基体上产生错配应力；而位错网络与位错墙是两种热应力联合作用于晶体边缘的结果．晶体生长过程中,液固界面生长形态从平界面向胞状界面发展产生的沉淀相村度不同于由于 Te 原子溶解度的回退产生的沉淀相衬度．CdZnTe 晶体中的堆跺层错和孪晶与固液界面的稳定性相关．
会议录	国家仪表功能材料工程技术研究中心、中国仪器仪表学会仪表材料学会、重庆仪表材料研究所、《功能材料》编辑部 ; http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GNCL200711010082&dbname=CPFD2008
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://ircloud.calis.edu.cn/hdl/261030/884]
专题	西北工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	曾冬梅,王涛,查钢强,等. CdZnTe晶体缺陷的透射电子显微分析[C]. 见:中国湖北武汉第六届中国功能材料及其应用学术会议.