高阻值Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的生长及其性能测试

CORC > 西北工业大学

	高阻值Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的生长及其性能测试
	李国强 ; 谷智 ; 介万奇
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200308010&dbname=CJFQ2003
	2012-04-24 ; 2012-04-24
关键词	Cd1-xZnxTe 布里奇曼法电阻率红外透过率结晶质量
中文摘要	通过适当的工艺措施 ,采用Bridgman法生长了直径为 30mm的X射线及γ射线探测器级的Cd0 9Zn0 1Te晶锭 .测试结果表明 :该晶锭结晶质量良好 ,位错密度低 ,成分均匀 ,杂质含量低 ,红外透过率和电阻率都十分接近本征Cd0 9Zn0 1Te的值 .并从晶体的生长特性、缺陷和杂质的角度 ,分析了生长高性能晶体的条件 ,研究了生长Cd1-xZnxTe晶体的x值与缺陷和杂质浓度之间的关系
语种	中文
出版者	半导体学报
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ircloud.calis.edu.cn/hdl/261030/226]
专题	西北工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李国强,谷智,介万奇. 高阻值Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的生长及其性能测试[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200308010&dbname=CJFQ2003,2012, 2012.
APA	李国强,谷智,&介万奇.(2012).高阻值Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的生长及其性能测试.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200308010&dbname=CJFQ2003.
MLA	李国强,et al."高阻值Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的生长及其性能测试".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200308010&dbname=CJFQ2003 (2012).