基于谐振原理的硅微薄膜弯曲疲劳装置的设计 | |
丁雷 ; 尚德广 ; 张大成 ; 贾冠华 ; 李浩群 | |
关键词 | 微机电系统设计 疲劳 薄膜 梳状驱动器 有限元分析 |
中文摘要 | 根据梳状驱动器原理设计了一种静电力驱动的硅微薄膜弯曲疲劳试验装置,所设计的装置可以由微机电系统表面牺牲层标准工艺制作加工。对所设计疲劳试验装置的圆弧梳状驱动器电容及静电驱动力进行了理论分析,并在此基础上采用有限元分析软件ANSYS对装置进行了模态分析与简谐分析。分析结果表明:当所施加的交流电压频率与结构的一阶固有频率相等时,试样在其缺口根部取得最大应力值,该应力值与所加交直流电压乘积的大小成线性关系,利用该关系式可对试验所需电压值进行预测。有限元分析和制造结果观测表明,所设计的装置符合微机械疲劳试验要求。 |
原文出处 | http://guest.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=ZGJX200803017&dbname=CJFQ2008 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | ![]() |
专题 | 北京工业大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 丁雷,尚德广,张大成,等. 基于谐振原理的硅微薄膜弯曲疲劳装置的设计[J]. |
APA | 丁雷,尚德广,张大成,贾冠华,&李浩群. |
MLA | 丁雷,et al."基于谐振原理的硅微薄膜弯曲疲劳装置的设计". |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论