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	基于振荡的SoC模拟核和ADC可测性设计
	胡庚 ; 王红 ; 杨士元 ; HU Geng ; WANG Hong ; YANG Shiyuan
	2010-07-15 ; 2010-07-15
会议名称	第四届中国测试学术会议论文集 ; 第四届中国测试学术会议 ; 中国河北秦皇岛北戴河 ; CNKI ; 中国计算机学会容错计算专业委员会
关键词	SoC 模拟电路 ADC 振荡 柱状图测试 SoC analog circuit ADC oscillation histogram test TN47
其他题名	Oscillation-Based Design-for-Test of Analog Cores and ADCs in SoC
中文摘要	将数字电路、模拟电路、处理器、存储器等集成到同一块芯片上的SoC技术,给集成电路的测试提出了新的挑战,其中模拟和混合信号电路的测试是目前SoC测试的瓶颈。本文提出一种基于振荡的SoC模拟核和模数转换器(ADC)可测性设计方案,在测试模式下,被测模拟核通过重构形成振荡器,产生周期性的信号作为ADC的测试激励。通过分析A／D转换结果,可对ADC 进行柱状图测试,并同时检测模拟核的振荡频率,实现对模拟核的振荡测试。; The SoC technology, which integrates digital circuit, analog circuit, processor and memory in the same chip, has put forward new challenges to IC test. The test of analog and mixed signal circuit is the bottleneck of SoC test at the present time. This paper describes an oscillation-based Design-for-Test strategy of analog cores and ADCs in SoC. The analog core under test is reconfigured into an oscillator in test mode, generating periodic signals as the test stimulus of ADC. By analyzing the AD converting results, histogram test of ADC can be taken, and the oscillation frequency can be checked, by which means oscillation test of the analog core is realized too.; 国家973计划(2005CB321604)的支持和资助。
语种	中文 ; 中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/70220]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	胡庚,王红,杨士元,等. 基于振荡的SoC模拟核和ADC可测性设计[C]. 见:第四届中国测试学术会议论文集, 第四届中国测试学术会议, 中国河北秦皇岛北戴河, CNKI, 中国计算机学会容错计算专业委员会.

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