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	含存储器数字电路系统的自动测试生成
	成本茂 ; 鞠艳秋 ; 王红 ; 杨士元 ; Cheng benmao ; Ju yanqiu ; Wang hong ; Yang shiyuan
	2010-07-15 ; 2010-07-15
会议名称	第四届中国测试学术会议论文集 ; 第四届中国测试学术会议 ; 中国河北秦皇岛北戴河 ; CNKI ; 中国计算机学会容错计算专业委员会
关键词	存储器 器件模型 自动测试生成 故障仿真 Memory Component model Automatic test generation Fault simulation TN79
其他题名	ATPG For Digital Circuits Contain Memory Chips
中文摘要	本文针对实际维护PCB板中对含存储器模块的电路系统的测试需求,从测试角度对ROM和RAM建立一种复杂器件模型。方案在确认模型正确的基础上,利用数字电路板故障诊断测试集的自动生成软件对含有存储器的数字电路板进行测试生成并进行了故障仿真, 验证结果表明该方法有效的满足了含存储器数字电路板的测试需求。同时含存储器数字电路系统的测试生成方案也为测试含有其他大规模数字器件的数字电路提供了借鉴。; This paper aimed at testing requirement of digital circuits contain memory chips during maintaining PCB, proposes a complex component model of ROM and RAM from testing angle. Our scheme first verifies correctness of model, and then we execute testing generation of a digital circuit contains memory chips with The Automatic Test Generation Software for Digital Circuits and fault simulate verification. The verification result manifests this scheme satisfies effectively the test requirement of digital circuit contains memory chips, meanwhile, this scheme provides reference for testing digital circuits contain some other large-scale digital components.
语种	中文 ; 中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/70195]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	成本茂,鞠艳秋,王红,等. 含存储器数字电路系统的自动测试生成[C]. 见:第四届中国测试学术会议论文集, 第四届中国测试学术会议, 中国河北秦皇岛北戴河, CNKI, 中国计算机学会容错计算专业委员会.

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