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	基于半导体发光器件的波长识别技术
	罗玮 ; 马晓红 ; 赵华凤 ; LUO Wei ; MA Xiaohong ; Zhao Huafeng
	2010-07-15 ; 2010-07-15
会议名称	光电技术与系统文选——中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议论文集 ; 中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议 ; 中国北京 ; CNKI ; 中国光学学会光电技术专业委员会
关键词	光性能监测 波长识别 透明电流 发光二极管 超辐射发光二极管 wavelength monitoring, LED, SOA, SLD, Optical Performance Monitoring (OPM) TN386
其他题名	Wavelength Monitoring Using Semiconductor Radiating Devices
中文摘要	本文对利用半导体发光器件,包括发光二极管、半导体光放大器和超辐射发光二极管,进行波长识别进行了理论分析和实验研究.研究了LED等半导体发光器件的感应结电压与入射信号光波长的对应关系.进一步分析了发光器件自身特性以及器件温度、偏置电流、入射信号光功率与探测灵敏度的关系.实验结果与理论分析符合较好.证明在同等条件下,超辐射发光二极管的波长敏感性相比发光二极管和半导体光放大器更好,更适用于波长检测.; In this paper we discuss an approach of wavelength monitoring using semiconductor devices such as LED, SOA and SLD as sensors in both theoretical and experimental way. The relationship between the wavelength of the input optical signal and the induced junction voltage is researched It is also researched that the sensor's sensitivity of wavelength dependent on characteristics of the semiconductor device itself, the temperature of the sensors, bias current, and input power. The experiment and the theoretical results are agreement well, and show the advantages of the SLD in wavelength monitoring and that an SLD is a better choice rather than either LED or SOA.
会议录出版者	电子工业出版社
语种	中文 ; 中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/69812]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	罗玮,马晓红,赵华凤,等. 基于半导体发光器件的波长识别技术[C]. 见:光电技术与系统文选——中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议论文集, 中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议, 中国北京, CNKI, 中国光学学会光电技术专业委员会.

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