| 用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷 | |
| 郁伟中 | |
| 2010-07-15 ; 2010-07-15 | |
| 会议名称 | 第九届全国正电子谱学会议论文集 ; Proceedings of the 9th National Conference on Positron Annihilation ; 第九届全国正电子谱学会议 ; 9th National Conference on Positron Annihilation ; 中国浙江绍兴 ; CNKI ; 中国科学院核分析技术重点实验室、绍兴文理学院应用化学研究所 |
| 关键词 | O483 |
| 中文摘要 | <正> 在清华大学物理系的诺贝尔奖物理实验室,我们新开了用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷等高等物理实验。我校的高等物理实验面对4年级学生和研究生,原有的普通物理实验和近代物理实验已经不能满足专业要求,为此我们新建立了多个实验,固体中的微小缺陷研究是其中的一个。人的眼睛不能直接观察到比0.1mm更小的物体或物质的结构细节,借助于光学显微镜,人们可以看到像细菌、细胞那样小的物体。但是由于光波的衍射效应,使得光学显微镜的分辨极限只能达到光波的半波长左右。可见光的最短波长约为0.4 μm,所以光学显微镜的极限分辨本领是0.2 μm。为了观察更微小的物体,必须利用波长更短的波作为光源。自从1933年制成第一台电子显微镜后,有许多用于表面结构分析的现代仪器先后问世。如扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、场电子显微镜(FEM)、场离子显微镜 |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/68728]  |
| 专题 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郁伟中. 用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷[C]. 见:第九届全国正电子谱学会议论文集, Proceedings of the 9th National Conference on Positron Annihilation, 第九届全国正电子谱学会议, 9th National Conference on Positron Annihilation, 中国浙江绍兴, CNKI, 中国科学院核分析技术重点实验室、绍兴文理学院应用化学研究所. |
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