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	金刚石薄膜探测器时间响应性能研究
	王兰 ; 欧阳晓平 ; 范如玉 ; WANG Lan ; OUYANG Xiao-ping ; FAN Ru-yu
	2010-07-15 ; 2010-07-15
会议名称	全国第六届核仪器及其应用学术会议论文集 ; Proceedings of the 6th National Conference on Nuclear Instrument & Its Application ; 全国第六届核仪器及其应用学术会议 ; The 6th National Conference on Nuclear Instrument & Its Application ; 中国广西桂林 ; CNKI ; 中国核学会核电子学与核探测技术分会、中国电子学会核电子学与核探测技术分会
关键词	金刚石薄膜 半导体探测器 时间响应 脉冲辐射探测 CVD diamond film semiconductor detector time response pulsed radiation TL816
其他题名	Time response of CVD diamond film detectors
中文摘要	研制出可以用于脉冲辐射探测的 CVD 金刚石薄膜探测器,通过理论计算和实验研究,讨论了金刚石探测器时间响应的影响因素。探测器的面积、厚度是影响其时间响应的主要因素,金刚石材料中的杂质和缺陷会使其时间响应变慢。选用高质量的金刚石薄膜可以制成适用于纳秒级脉冲辐射探测的半导体探测器。; The speed of a CVD diamond detector is faster than a Si-PIN detector with the same size. Two CVD diamond film detectors of different size and quality are made and factors which may affect the time response of a CVD diamond film detector are discussed through theoretic and experimental researches.The area and thickness of the film are the main factors. And the impurities and traps in the film slow the detectors.CVD diamond detectors for ns pulsed radiation detection can be made by using high quality diamond films with the proper size.
语种	中文 ; 中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/66626]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	王兰,欧阳晓平,范如玉,等. 金刚石薄膜探测器时间响应性能研究[C]. 见:全国第六届核仪器及其应用学术会议论文集, Proceedings of the 6th National Conference on Nuclear Instrument & Its Application, 全国第六届核仪器及其应用学术会议, The 6th National Conference on Nuclear Instrument & Its Application, 中国广西桂林, CNKI, 中国核学会核电子学与核探测技术分会、中国电子学会核电子学与核探测技术分会.

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