真空蒸镀聚苯硫醚薄膜的电学双稳态研究 | |
郭晓春 ; 董桂芳 ; 王立铎 ; 邱勇 | |
2010-06-10 ; 2010-06-10 | |
关键词 | 聚苯硫醚 蒸镀 电双稳态 存储器件 O484.4 |
中文摘要 | 研究发现,通过真空蒸镀制得的聚苯硫醚(PPS)薄膜具有电学双稳态的特性.由PPS薄膜制备的器件结构为:玻璃/ITO/PPS(300nm)/金.施加5s的80V电压脉冲可将PPS薄膜转变为低阻态,再施加5s的100V电压脉冲则可将其转回高阻态.此特性有可能应用于数据存储.作为存储器件,其临界电压为40V,其读取电压为5V.实验表明,外加电压下PPS薄膜电导状态的改变可能与C,S之间的电子转移有关. |
语种 | 中文 ; 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/60788] ![]() |
专题 | 清华大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭晓春,董桂芳,王立铎,等. 真空蒸镀聚苯硫醚薄膜的电学双稳态研究[J],2010, 2010. |
APA | 郭晓春,董桂芳,王立铎,&邱勇.(2010).真空蒸镀聚苯硫醚薄膜的电学双稳态研究.. |
MLA | 郭晓春,et al."真空蒸镀聚苯硫醚薄膜的电学双稳态研究".(2010). |
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