| 利用异步采样电路提高SRAM工艺FPGA的设计安全性 | |
| 陈文涛 ; 金德鹏 ; 曾烈光 | |
| 2010-06-09 ; 2010-06-09 | |
| 关键词 | SRAM工艺FPGA 设计安全性 异步采样电路 M序列 TN791 |
| 中文摘要 | 提出了一种利用外接CPLD提高SRAM工艺FPGA设计安全性的方法。该方法利用异步采样电路的不确定性生成随机序列,并且每次上电都产生不同的随机序列,断绝了剽窃者通过克隆序列对系统进行破解的可能性。此外,芯片之间通信采用了M序列加密,以进一步增强系统的安全性。 |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/53673]  |
| 专题 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈文涛,金德鹏,曾烈光. 利用异步采样电路提高SRAM工艺FPGA的设计安全性[J],2010, 2010. |
| APA | 陈文涛,金德鹏,&曾烈光.(2010).利用异步采样电路提高SRAM工艺FPGA的设计安全性.. |
| MLA | 陈文涛,et al."利用异步采样电路提高SRAM工艺FPGA的设计安全性".(2010). |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论