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	基于二维测试数据压缩的BIST方案
	周彬 ; 叶以正 ; 李兆麟 ; Zhou Bin ; Ye Yizheng ; Li Zhaolin
	2010-06-09 ; 2010-06-09
关键词	内建自测试 测试数据压缩 输入精简 扭环计数器 built-in self-test (BIST) test data compression input reduction twisted-ring counter TP306
其他题名	BIST Scheme Based on Two-Dimensional Test Data Compression
中文摘要	为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试集嵌入技术的种子选择算法,将确定性的测试集压缩成很小的种子集.基于ISCAS89标准电路的实验结果表明,采用文中方案所实现的测试电路与已有方案相比:存储位数平均减少了44%,测试向量的长度平均减少了79%,硬件开销平均减少了41%.; In order to reduce the storage requirements for the test patterns,a vertical and horizontal test data compression BIST scheme based on the test pattern generation of twisted-ring counter is proposed. Firstly,the test pattern width is compressed with the input reduction technique. Secondly,an efficient seed selection algorithm targeting the minimization of the selected seed volumes for the test set embedding case is utilized to compress the test set into the seed set. Experimental results on the ISCAS89 benchmark circuits show that the proposed scheme requires 44% less test storage,79% less test patterns,and 41% less hardware overhead compared with the previous scheme.
语种	中文 ; 中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/53529]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	周彬,叶以正,李兆麟,等. 基于二维测试数据压缩的BIST方案[J],2010, 2010.
APA	周彬,叶以正,李兆麟,Zhou Bin,Ye Yizheng,&Li Zhaolin.(2010).基于二维测试数据压缩的BIST方案..
MLA	周彬,et al."基于二维测试数据压缩的BIST方案".(2010).

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