Polarized spectral analysis of Ho3+ ions in biaxial YAlO3 crystal for 2μm lasers
Dong Q(董勤) ; Zhao GJ(赵广军) ; Cao DH(曹顿华) ; Yao BQ(姚宝权) ; Yang XT(杨小涛) ; Yu ZP(余正平)
刊名J. Phys. D: Appl. Phys.
2009-01-30
期号42页码:045114
关键词Spectral properties Czothralski method Laser materials
合作状况其它
学科主题光学材料
收录类别其他
语种中文
公开日期2010-05-06
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/6691]  
专题上海光学精密机械研究所_激光与光电子功能材料研发中心
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GB/T 7714
Dong Q,Zhao GJ,Cao DH,et al. Polarized spectral analysis of Ho3+ ions in biaxial YAlO3 crystal for 2μm lasers[J]. J. Phys. D: Appl. Phys.,2009(42):045114.
APA 董勤,赵广军,曹顿华,姚宝权,杨小涛,&余正平.(2009).Polarized spectral analysis of Ho3+ ions in biaxial YAlO3 crystal for 2μm lasers.J. Phys. D: Appl. Phys.(42),045114.
MLA 董勤,et al."Polarized spectral analysis of Ho3+ ions in biaxial YAlO3 crystal for 2μm lasers".J. Phys. D: Appl. Phys. .42(2009):045114.
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