| 利用单片机实现微加速度计性能自动测试 | |
| 冯宇翔 ; 董景新 ; 赵长德 ; 吴天准 ; FENG Yu-xiang ; DONG Jing-xin ; ZHAO Chang-de ; WU Tian-zhun | |
| 2010-06-08 ; 2010-06-08 | |
| 关键词 | 微加速度计 温度采集 自动测试 micro-accelerometer temperature collection automatic measuring TH824.4 |
| 其他题名 | A Way of Automatic Measuring Micro-Accelerometer Using Monolithic Computer |
| 中文摘要 | 利用ATMEL公司的高速嵌入式单片机实现MEMS加速度计性能指标的自动测试,对系统中的模拟地与数字地分离、正负电压上电时间控制、温度信息采集、串口通讯协议等细节作了详细分析。结果表明,这是一个低价而可靠的微加速度计自动测试解决方案。; An automatic measuring system based on the monolithic computer of ATMEL Corporation was introduced,according to the criterion of the measuring of micro-accelerometer.The A/D grounds separation,the time-lapse of P/N voltage,the temperature collection and the serial port protocol were analyzed.The results show that this is a low-cost and credible solution for micro-accelerometer auto-measurement.; 国家“十五”科技攻关项目(41308050103) |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/49446]  |
| 专题 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯宇翔,董景新,赵长德,等. 利用单片机实现微加速度计性能自动测试[J],2010, 2010. |
| APA | 冯宇翔.,董景新.,赵长德.,吴天准.,FENG Yu-xiang.,...&WU Tian-zhun.(2010).利用单片机实现微加速度计性能自动测试.. |
| MLA | 冯宇翔,et al."利用单片机实现微加速度计性能自动测试".(2010). |
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