基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统

CORC > 清华大学

	基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统
	姚元 ; 叶苍竹 ; 曹祥鑫 ; 官守军 ; 殷璐 ; 冯正和
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GTXS201011001&dbname=CJFQ2010
	2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词	GPIB技术光插回损耗自动测试系统数据库
中文摘要	针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统。该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试。所采集数据利用Access数据库统一管理。应用结果表明,该系统运行稳定,操作简便,具有一定的实用性和推广价值。
语种	中文
其他责任者	清华大学电子工程系 ; 黄石晨信光电有限责任公司
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/2694]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	姚元,叶苍竹,曹祥鑫,等. 基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GTXS201011001&dbname=CJFQ2010,2012, 2012.
APA	姚元,叶苍竹,曹祥鑫,官守军,殷璐,&冯正和.(2012).基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GTXS201011001&dbname=CJFQ2010.
MLA	姚元,et al."基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GTXS201011001&dbname=CJFQ2010 (2012).