CORC  > 清华大学
H,He,Kr杂质在过渡金属和贵金属中的行为
楼永明 ; 顾秉林 ; 高乃飞 ; 熊家炯 ; 曹必松 ; 郁伟中
刊名http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB198801025&dbname=CJFQ1988
2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词正电子湮没寿命 电子结构 空位团 过渡金属 束缚态 杂质 贵金属 散射态 电子能级 复合体
中文摘要本文以胶体模型为基础,利用密度泛函理论,局域密度近似研究了H,He和Kr在过渡金属Ni,Fe,Cr和贵金属Cu中的空位团复合体的电子结构、正电子湮没寿命。结果表明:随着复合体尺寸的增加,杂质的束缚态电子能级变浅,散射态电子在复合体内的平均密度变小,正电子在复合体内的几率增大,正电子湮没寿命增加。
语种中文
其他责任者清华大学物理系
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/1691]  
专题清华大学
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GB/T 7714
楼永明,顾秉林,高乃飞,等. H,He,Kr杂质在过渡金属和贵金属中的行为[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB198801025&dbname=CJFQ1988,2012, 2012.
APA 楼永明,顾秉林,高乃飞,熊家炯,曹必松,&郁伟中.(2012).H,He,Kr杂质在过渡金属和贵金属中的行为.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB198801025&dbname=CJFQ1988.
MLA 楼永明,et al."H,He,Kr杂质在过渡金属和贵金属中的行为".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB198801025&dbname=CJFQ1988 (2012).
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